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    3504-40 C測試儀 3504-40 C測試儀 封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具,實現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
    01

    更新日期

    2023-11-12
    02

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    3506-10 LCR測試儀 3506-10 LCR測試儀 對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量 ● 提高了抗干擾性,在產(chǎn)線的上也能實現(xiàn)高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下,低電容的貼片時可穩(wěn)定測量 ● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
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    3511-50 LCR測試儀 3511-50 LCR測試儀精巧,非常專業(yè),5ms快速測量LCR ● 高速測量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) ● 高精度: ± 0.08% ● 內(nèi)置比較器
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    IM3533-01 LCR測試儀 IM3533-01 LCR測試儀應用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域 ● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 ● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,不間斷測試,速度比以往產(chǎn)品快10倍。
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    IM3523 LCR測試儀 IM3523 LCR測試儀 應用于生產(chǎn)線和自動化測試領(lǐng)域的理想選擇 ● 基本精度±0.05%,測量范圍廣(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ● 在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。 ● 內(nèi)置比較器和BIN功能 ● 2ms的快速測試時間
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