IM3570阻抗分析儀

描述：IM3570阻抗分析儀1臺儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
● 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下Z快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2023-11-12
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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：IM3570阻抗分析儀

產(chǎn)品概述

1臺儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查

● 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下zui快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量

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